[发明专利]用于X-射线图像信息的图像校正的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201380063142.6 申请日: 2013-09-29
公开(公告)号: CN104838288B 公开(公告)日: 2018-05-25
发明(设计)人: C·赫尔曼 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李光颖;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及X‑射线图像信息的校正,例如与X‑射线探测器元件中的持续电流有关的X‑射线图像信息的校正。X‑射线探测器可以被实现为具有欧姆接触的光电导体,所述光电导体输出取决于撞击在各自的光电导体像素上的光子的能量和量的光电流。这样的光电导体可以呈现光电导增益,即当由X‑射线辐射辐照时测得的电流比将由仅仅生成电子‑空穴对的撞击光子引起的电流更高。为了补偿光电导增益,提供了一种用于X‑射线图像信息的图像校正的方法(50),所述方法包括接收(52)X‑射线探测器元件(14)的读出信息,其中,所述读出信息取决于生成光电流的撞击X‑辐射(20),并且采用补偿信息来对所述读出信息补偿(54)光电导增益。
搜索关键词: 光电导体 射线图像信息 射线探测器 读出信息 光电导 图像校正 光电流 光子 校正 空穴 方法和装置 辐照 补偿信息 持续电流 欧姆接触 射线辐射 图像信息 电流比 像素 输出 辐射
【主权项】:
1.一种用于X-射线图像信息的图像校正的方法(50),包括:接收(52)X-射线探测器元件(14)的读出信息;其中,所述读出信息取决于生成光电流的撞击X-辐射(20);根据所述读出信息来确定(56)光子能量和/或光子计数;以及每个探测器像素元件(18)的所述光电流;通过对所述光电流补偿持续电流来确定(58)补偿的光电流;确定(60)补偿信息,包括基于所述补偿的光电流来确定补偿的光子能量;并且采用所确定的补偿信息来对所述读出信息补偿(54)光电导增益。
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