[发明专利]真空劣化监视装置有效
| 申请号： | 201380064675.6 | 申请日： | 2013-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN104854676A | 公开（公告）日： | 2015-08-19 |
| 发明（设计）人： | 井上直明;安部淳一;田边智子;矢野知孝;吉田晓 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | H01H33/668 | 分类号： | H01H33/668;H01H9/54;H01H33/662;H02B13/02;H02B13/065 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 金光华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 为了判定真空隔断器的真空劣化，并且防止广播波、来自其他设备的传导噪声等的外来噪声所致的误动作，在通过套管(4)而将真空阀(9)的连接线向金属制罐外导出的金属制罐形真空隔断器(15)的真空劣化监视装置中，套管(4)具备具有低通功能的内部屏蔽物(4b)，该真空劣化监视装置具备：第一天线(5)，设置在金属制罐(12)的内部；第二天线(6)，设置在金属制罐(12)的外部；第一探测部(8A)，测定由第一天线(5)检测到的真空阀(9)的部分放电所引起的电磁波的强度；第二探测部(8B)，测定由第二天线(6)检测到的金属制罐(12)外的噪声所引起的电磁波的强度；以及判定部(8C)，通过比较由第一探测部(8A)探测到的电磁波的强度和由第二探测部(8B)探测到的电磁波的强度来判定金属制罐形真空隔断器(15)的真空劣化，第一探测部(8A)以及第二探测部(8B)具备使真空阀(9)的真空劣化时发生的放电所引起的电磁波中的、由内部屏蔽物(4b)衰减的频带通过的频率滤波器(81、81a～81d)。 | ||
| 搜索关键词： | 真空 监视 装置 | ||
【主权项】：
一种真空劣化监视装置，监视金属制罐形真空隔断器的真空阀的真空劣化，该金属制罐形真空隔断器在金属制罐的内部具备所述真空阀，并通过套管而将所述真空阀的连接线向所述金属制罐外导出，所述真空劣化监视装置的特征在于，所述套管具备具有低通功能的内部屏蔽物，所述真空劣化监视装置具备：第一天线，设置在所述金属制罐的内部；第二天线，设置在所述金属制罐的外部；第一探测部，测定由所述第一天线检测到的所述真空阀的部分放电所引起的电磁波的强度；第二探测部，测定由所述第二天线检测到的所述金属制罐外的噪声所引起的电磁波的强度；以及判定部，通过比较由所述第一探测部探测到的电磁波的强度和由所述第二探测部探测到的电磁波的强度来判定所述真空阀的真空劣化，所述第一探测部以及第二探测部具备频率滤波器，所述频率滤波器使所述真空阀的真空劣化时发生的放电所引起的电磁波中的、由所述内部屏蔽物衰减的频带通过。
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