[发明专利]熔解曲线分析有效

专利信息
申请号: 201380077243.9 申请日: 2013-04-23
公开(公告)号: CN105492624B 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: T·冯莱伯;J·库克拉;D·科昂 申请(专利权)人: 恩姆菲舍尔科技公司
主分类号: C12Q1/6827 分类号: C12Q1/6827;G16B25/00
代理公司: 北京世峰知识产权代理有限公司 11713 代理人: 卓霖;许向彤
地址: 芬兰*** 国省代码: 芬兰;FI
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摘要: 提供一种用于利用荧光表征具有独特的Tm的诸如PCR产物的核酸分子的高分辨率率熔解曲线分析的方法。所述技术包括将原始熔解曲线数据建模称为至少两个信号分量的总和,第一信号分量表示由未结合/自由荧光基团发射的高强度,并且一个或多个第二信号分量表示由结合到双链DNA的荧光基团发射的组合光强度。数值分析被用来确定有助于总信号的不同分量的值,使得模型尽可能严密地匹配原始荧光数据。该方法使得即使在非饱和燃料浓度下仍能够提高靶合适的混合物的分辨率,因为考虑到从低温双链到在较高温度下熔解的双链的插入染料的再分配效果。
搜索关键词: 熔解 曲线 分析
【主权项】:
1.一种用于分析熔解曲线的方法,所述熔解曲线表征溶液的熔解,所述溶液包含核酸分子的一个或多个种群和恒定数量的至少第一类型的荧光基团,所述方法包括:获得在温度范围内熔解曲线数据的荧光信号描述,荧光信号表示由所述荧光基团发射的作为温度函数的光强度;在所述温度范围内的多个温度下将所述荧光信号建模成为第一信号分量和一组一个或多个第二信号分量的总和,所述第一信号分量表示在给定温度下由所述溶液中的所述第一类型的未结合荧光基团发射的组合光强度,每个第二信号分量分别表示在所述给定的温度下由结合到相应核酸分子种群的所述荧光基团发射的组合光强度,其中,所述第一信号分量被提供作为第一项和第二项的乘积,所述第一项表示在所述给定温度下所述第一类型的未结合荧光基团的相对数量,所述第二项表示在所述给定温度下所述第一类型的未结合荧光基团的发射效率,并且其中每个第二信号分量均被提供作为相应的第三项和相应的第四项的乘积,所述第三项表示在所述给定温度下结合到相应核酸分子种群的所述荧光基团的相对数量,并且所述第四项表示在所述给定温度下结合到相应核酸分子种群的所述荧光基团的发射效率;和利用数值分析来确定在所述多个温度下所述第一项、所述第二项、所述第三项和所述第四项的值,使得所述荧光信号和模仿的荧光信号之间的差满足预定标准,其中利用数值分析包括:在所述多个温度下将所述项中的至少一项设置为预定值,和在所述多个温度下采用数值分析确定其它项的值。
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