[发明专利]原子荧光光谱法测定铜冶炼副产品硫酸铜中痕量硒的方法无效
| 申请号： | 201410040620.8 | 申请日： | 2014-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN103776810A | 公开（公告）日： | 2014-05-07 |
| 发明（设计）人： | 王冬珍;韦文辉;马得莉;陈瑾霞;郑燕萍 | 申请（专利权）人： | 白银有色集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 甘肃省知识产权事务中心 62100 | 代理人： | 田玉兰 |
| 地址： | 730900 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开利用原子荧光光谱法测定铜冶炼副产品硫酸铜中痕量硒的方法，用标准硒溶液配置工作曲线溶液；用原子荧光光度计测定工作曲线溶液中硒的原子荧光强度，以硒的质量浓度为横坐标，以硒的荧光强度为纵坐标，绘制工作曲线；用原子荧光光度计测定样品溶液的原子荧光强度，用样品溶液中硒的荧光强度在相应的工作曲线上查出相应元素硒的质量浓度；本发明有效掩蔽干扰离子Zn、Fe、Co、Ni、Cd、Sb、Te、Sn、Ag、Cu等离子的影响，还能消除铜基体本身对硒测量的影响，使硒的测量结果更准确，测定时间短、精度高、检出限低、线性范围宽、能同时快速测定，适合大批量样品分析，具有很好的经济效益和工业应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 原子 荧光 光谱 测定 冶炼 副产品 硫酸铜 痕量 方法 | ||
【主权项】：
一种利用原子荧光光谱法测定铜冶炼副产品硫酸铜中痕量硒的方法，其特征在于：所述方法包括：配置硫酸铜样品的溶液，配置标准硒溶液，用标准硒溶液配置工作曲线溶液；用原子荧光光度计测定工作曲线溶液中硒的原子荧光强度，以硒的质量浓度为横坐标，以硒的荧光强度为纵坐标，绘制工作曲线；用原子荧光光度计测定样品溶液的原子荧光强度，用样品溶液中硒的荧光强度在相应的工作曲线上查出相应元素硒的质量浓度；计算试样中元素硒的质量百分数，所述溶液配置后至少放置30分钟。
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