[发明专利]一种LED灯寿命的测试方法在审
| 申请号： | 201410053190.3 | 申请日： | 2014-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN104849677A | 公开（公告）日： | 2015-08-19 |
| 发明（设计）人： | 周金龙 | 申请（专利权）人： | 浙江云时代光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/44 | 分类号： | G01R31/44 |
| 代理公司： | 北京立成智业专利代理事务所(普通合伙) 11310 | 代理人： | 张江涵 |
| 地址： | 314312 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种LED灯寿命的测试方法，A：对正常生产批次的LED产品，按标准进行周期检验计数抽样；B：把产品放入高温测试箱中，进行如下测试：在一定的压力、温度、电压环境下通电测试一定的测试时间；然后升高压力和电压，进一步通电测试一定的测试时间；重复以上步骤测试数次，其中温度高于环境温度；C：通过上述步骤B中若干次的测试后，对所测产品进行合格判定；D：把步骤C的经高温测试箱测试判为合格的产品，放入高低温交变湿热测试箱中，进行一定时间的测试，其中温度低于环境温度，完成后恢复常温后，通电进行合格判定，能正常启动，判定合格。本发明提供可以测定一个批次的LED灯的寿命的数据的测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 寿命 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种LED灯寿命的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：A：对正常生产批次的LED产品，按标准进行周期检验计数抽样；B：把产品放入高温测试箱中，进行如下测试：在一定的压力、温度、电压环境下通电测试一定的测试时间；然后升高压力和电压，进一步通电测试一定的测试时间；重复以上步骤测试数次，其中温度高于环境温度；C：通过上述步骤B中若干次的测试后，对所测产品进行合格判定，能够正常启动，正常点亮判为合格；D：把步骤C的经高温测试箱测试判为合格的产品，放入高低温交变湿热测试箱中，进行一定时间的测试，其中温度低于环境温度，完成后恢复常温后，通电进行合格判定，能正常启动，判定合格。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江云时代光电科技有限公司，未经浙江云时代光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410053190.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种钢筋调直机
- 下一篇：一种冲压模具上的凹模防超载结构
