[发明专利]一种基于分块DRAM的低功耗刷新方法有效

专利信息
申请号: 201410053690.7 申请日: 2014-02-17
公开(公告)号: CN103811047B 公开(公告)日: 2017-01-18
发明(设计)人: 景蔚亮;陈邦明 申请(专利权)人: 上海新储集成电路有限公司
主分类号: G11C11/406 分类号: G11C11/406
代理公司: 上海申新律师事务所31272 代理人: 吴俊
地址: 201500 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种基于分块DRAM的低功耗刷新方法,包括当所述DRAM处于繁忙状态时,所述DRAM的刷新周期为T_refresh0;当所述DRAM处于非繁忙状态时,选取所述DRAM芯片中N个块的某一保持时间T_refresh1,所述T_refresh1大于T_refresh0,在保持时间T_refresh1下,存在最差存储单元的L个块分别记作块L_0,块L_1,……,块L_L‑1(0<L≤N)。关闭所述DRAM芯片中的L个块,将剩余N‑L个块的刷新周期时间可以提升至T_refresh1。本发明的技术方案能够有效提高所述分块DRAM的刷新周期,大大降低了刷新功耗,并且基本不影响DRAM的性能。
搜索关键词: 一种 基于 分块 dram 功耗 刷新 方法
【主权项】:
一种基于分块DRAM的低功耗刷新方法,所述DRAM芯片包括N个可以独立进行周期刷新操作的块,所述N≥1,所述N个块均具有相对应的最差存储单元和保持时间,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,当所述DRAM处于繁忙状态时,所述DRAM的刷新周期为T_refresh0;步骤2,当所述DRAM处于非繁忙状态时,选取所述DRAM芯片中N个块的某一保持时间T_refresh1,所述T_refresh1大于T_refresh0,在保持时间T_refresh1下,存在最差存储单元的L个块分别记作块L_0,块L_1,……,块L_L‑1(0<L≤N);步骤3,关闭所述DRAM芯片中的L个块。
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