[发明专利]一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法无效
申请号: | 201410062797.8 | 申请日: | 2014-02-24 |
公开(公告)号: | CN103822810A | 公开(公告)日: | 2014-05-28 |
发明(设计)人: | 赵如龙;李义长;王洪利;李荣华;樊毅 | 申请(专利权)人: | 攀钢集团成都钢钒有限公司 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 谭昌驰;邢伟 |
地址: | 610303 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供了一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法。所述制备方法包括以下步骤:从待测样品上切取预定长度的试样坯料;沿试样坯料的长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将所述试样坯料压扁,以得到能够将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样。本发明为原始尺寸或直径小于光电直读光谱分析仪火花台的激发口直径的圆盘条及深加工产品提供了一种制备光电直读光谱分析仪用试样的方法,对产品质量的保证具有重要意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 光电 直读 光谱分析 试样 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:从待测样品上切取预定长度的试样坯料;沿试样坯料的长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将所述试样坯料压扁,以得到能够将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样。
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