[发明专利]一种多端口寄存器堆存储单元在审

专利信息
申请号: 201410077924.1 申请日: 2014-03-05
公开(公告)号: CN103915108A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 虞志益;张星星;李毅;熊保玉;韩军;张章;韩军;程旭;曾晓洋 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G11C7/18 分类号: G11C7/18;G11C7/00
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于集成电路技术领域,具体为一种多端口寄存器堆存储单元。本发明的存储单元由8个NMOS管和2个PMOS管构成,其中,4个NMOS管和2个PMOS管构成耦合反相器,用于存储数据,另外4个NMOS管为读写晶体管,其布局布线方式为:对应于所述寄存器堆存储单元的具有N阱,多晶硅层,有源区层,CT和M1的版图;该寄存器堆单元具有上下对称和左右对称的结构;耦合反相器的6个晶体管采用2条多晶硅栅,极大地减小了由于制造偏差引起的晶体管的不对称,增加了噪声容限;两个PMOS管共用漏端有源区,四个NMOS管和四个写晶体管共用源端有源区,减小了通孔数目,极大地缩小了单元的面积。
搜索关键词: 一种 多端 寄存器 存储 单元
【主权项】:
 一种多端口寄存器堆存储单元,其特征在于,由8个NMOS管和2个PMOS管构成,其中,4个NMOS管和2个PMOS管构成耦合反相器,用于存储数据,另外4个NMOS管为读写晶体管,其布局布线方式为:对应于所述寄存器堆存储单元的具有N阱,多晶硅层,有源区层,CT和M1的版图;故该寄存器堆单元,具有上下对称和左右对称的结构。
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