[发明专利]用于嵌入式快闪存储器的内建自测试方法及装置

摘要

一种用于嵌入式快闪存储器的内建自测试方法及装置，所述方法包括第一探查步骤、模拟老化步骤、第二探查步骤，其中，所述第一探查步骤包括生成原始测试数据；获取测试数据变换规则；根据所述原始测试数据和所述变换规则，生成变换后数据；将所述原始测试数据和所述变换后数据分别写入闪存模块中nvr阵列的第0行和第1行；所述第二探查步骤包括分别读取所述闪存模块中nvr阵列的第0行和第1行的数据；基于从第0行和第1行读取的数据，判断所述闪存模块是否通过测试。本发明在对nvr阵列的第0行进行测试的同时，也同步对第1行进行了测试，提高了内建自测试的检测覆盖率，进而也就提高了测试准确率。

主权项

一种用于嵌入式快闪存储器的内建自测试方法，包括：第一探查步骤、模拟老化步骤、第二探查步骤，其特征在于，所述第一探查步骤包括：生成原始测试数据；获取测试数据变换规则；根据所述原始测试数据和所述变换规则，生成变换后数据，所述变换规则具体为：变换后数据＝0xff‑原始测试数据，其中，0xff为全1序列；将所述原始测试数据和所述变换后数据分别写入闪存模块中nvr阵列的第0行和第1行，不保存写入的数据；所述第二探查步骤包括：分别读取所述闪存模块中nvr阵列的第0行和第1行的数据；基于从第0行和第1行读取的数据，判断所述闪存模块是否通过测试，具体是：只根据读取的数据来判断出是否测试通过，判断过程中不将读取的数据与写入的数据进行对比，将从第0行和第1行读取的数据相加，若相加后结果为0xff，则测试通过，若相加后结果为0xff以外的任何值，则测试未通过。