[发明专利]芯片的测试电路及其测试方法有效
| 申请号： | 201410078915.4 | 申请日： | 2014-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN103809111A | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 钱亮 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/30 | 分类号： | G01R31/30 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 吴靖靓;骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种芯片的测试电路，包括：电源电压提供单元，适于获得核心电源电压；输入焊盘，适于输入基准电压；电压比较单元，适于获得所述核心电源电压和基准电压的电压值比较结果；输出焊盘，适于输出所述电压值比较结果。本发明技术方案提供的测试电路可以直接通过输出焊盘输出基准电压和核心电源电压的电压值比较结果，通过电压值比较结果可以获得核心电源电压的电压值。这样无需降低芯片的电源电压，芯片的核心电路使用核心电源电压进行测试，并且也无需检测核心电源电压的电压值，只需在电压值比较结果发生变化时进行测试，这对于在有限量测硬件单元和低端测试机上可以实现高速高效的同测方案，极大的提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 电路 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片的测试电路，其特征在于，包括：电源电压提供单元，适于获得核心电源电压；输入焊盘，适于输入基准电压；电压比较单元，适于获得所述核心电源电压和基准电压的电压值比较结果；输出焊盘，适于输出所述电压值比较结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司，未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410078915.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种多功能存储器
- 下一篇：一种立体图像显示声音播放装置
