[发明专利]用于识别电子电路中的缺陷的装置及方法在审
| 申请号： | 201410095444.8 | 申请日： | 2014-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN104050907A | 公开（公告）日： | 2014-09-17 |
| 发明（设计）人： | V·米那耶夫;R·A·马丁;T·E·威沙德;M·S·卡萨迪;李钟浩;T·H·贝利;S·克里希纳斯瓦米 | 申请（专利权）人： | 烽腾科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 骆希聪 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开用于在防止大规模面板损坏的同时保持用于面板检测（即，像素及线缺陷探测）的可靠和可再现状态的技术。一种实施形式涉及到一种用于识别电子电路中的缺陷的装置，所述装置包含：电路驱动模块，用以对所述电子电路施加电性测试信号；缺陷探测模块，用以至少根据所施加的所述电性测试信号来识别所述电子电路中的所述缺陷；信号监测模块，用以在所述电子电路处测量所述电性测试信号；以及控制模块，可操作地耦合至所述信号监测模块及所述电路驱动模块，并用以根据在所述电子电路处测量的所述电性测试信号来控制至少所述电路驱动模块。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 识别 电子电路 中的 缺陷 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于识别电子电路中的缺陷的装置，所述装置包括：a.电路驱动模块，用以对所述电子电路施加电性测试信号；b.缺陷探测模块，用以至少根据所施加的所述电性测试信号来识别所述电子电路中的所述缺陷；c.信号监测模块，用以在所述电子电路处测量所述电性测试信号；以及d.控制模块，可操作地耦合至所述信号监测模块及所述电路驱动模块，并用以根据在所述电子电路处测量的所述电性测试信号来控制至少所述电路驱动模块。
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