[发明专利]一种基于SHWS的相位显微镜成像方法有效
| 申请号： | 201410104330.5 | 申请日： | 2014-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN103884681A | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | 刘华锋;黄晨曦 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G02B21/00 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 胡红娟 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于SHWS的相位显微镜成像方法，包括：（1）采集Hartmanngram；（2）计算质心分布；（3）计算波前斜率；（4）重建波前相位；（5）重建三维断层折射率。本发明有效利用SHWS改善了基于干涉法的相位显微镜存在的硬件搭建复杂，重建步骤繁琐，容易受到振动影响从而引入大量噪声的问题；与现有重建方法的实验比较表明，大大简化了其硬件，也简化了重建步骤，并避免受到振动影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 shws 相位 显微镜 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种基于SHWS的相位显微镜成像方法，包括如下步骤：（1）针对不放样品和放样品两种情况，利用SHWS进行探测得到两种情况下各角度光线对应的Hartmanngram；（2）根据所述的Hartmanngram计算上述两种情况下SHWS前透镜方阵中每一透镜在各角度光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布；（3）根据所述的质心分布计算出各角度光线通过每一透镜后的波前斜率；（4）根据所述的波前斜率利用区域迭代法估计每一透镜对各角度光线成像所引入的波前相位，进而得到对应各角度光线的波前相位方阵；（5）根据所述的波前相位方阵利用FBP法对样品进行三维断层折射率重建，得到样品各切片对应的折射率方阵。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学，未经浙江大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410104330.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：多联热管机房空调系统
- 下一篇：一种基于虚拟现实的图书系统
