[发明专利]FPGA外挂存储器校验方法及装置

摘要

本发明实施例提供一种FPGA外挂存储器校验方法及装置，该方法包括FPGA获取写入所述FPGA的外挂存储器的第一数据和所述第一数据对应的第一地址；根据所述第一地址获取与所述第一数据的位数相同的第一待校验地址；将所述第一数据和所述第一待校验地址进行异或，获取第一异或结果；将所述第一异或结果与初始校验值进行异或，获取第一校验值。本发明实施例中，第一数据和第一待校验地址进行异或，并将异或结果与初始校验值进行异或，来获取校验值，实现了对FPGA外挂存储器写入的地址和数据的混合校验，即不仅完成了对数据的校验，也完成了对地址的校验，可以及时发现地址的错误。

主权项

一种FPGA外挂存储器校验方法，其特征在于，包括：A、现场可编程门阵列FPGA获取写入所述FPGA的外挂存储器的第一数据和所述第一数据对应的第一地址；B、所述FPGA根据所述第一地址获取与所述第一数据的位数相同的第一待校验地址；C、所述FPGA将所述第一数据和所述第一待校验地址进行异或，获取第一异或结果；D、所述FPGA将所述第一异或结果与初始校验值进行异或，获取第一校验值；E、所述FPGA将所述第一校验值作为所述初始校验值，执行A‑D，直到校验结束；其中，所述FPGA根据所述第一地址获取与所述第一数据的位数相同的第一待校验地址，包括：所述FPGA判断所述第一地址的位数是否和所述第一数据的位数相同；若所述第一地址的位数与所述第一数据的位数相同，则将所述第一地址作为第一待校验地址；若所述第一地址的位数小于所述第一数据的位数，则将所述地址进行补齐，获取与所述第一数据的位数相同的第一待校验地址；所述FPGA获取写入所述FPGA的外挂存储器的第一数据和所述第一数据对应的第一地址之前，还包括：所述FPGA获取写入所述FPGA的外挂存储器的初始数据和所述初始数据对应的初始地址；所述FPGA根据所述初始地址获取与所述初始数据的位数相同的初始待校验地址；所述FPGA将所述初始数据和所述初始待校验地址进行异或，获取初始异或结果；所述FPGA将所述初始异或结果作为初始校验值。