[发明专利]存储器测试系统及方法有效
| 申请号： | 201410106426.5 | 申请日： | 2014-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN104934073B | 公开（公告）日： | 2017-10-13 |
| 发明（设计）人： | 周敏忠 | 申请（专利权）人： | 晶豪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明实施例提出一种存储器测试系统，所述存储器测试系统包含存储器装置、探针卡与测试器。存储器装置包含具有多个存储库的存储器芯片、数个输入电路与数个输出电路，其中每个输入电路皆具有第一输入接脚与第二输入接脚。输入电路的多个第一输入接脚用以读取多个存储库的多个存储单元中储存的多笔数据，而多个第二输入接脚用以接收一个压缩结果信号。多个输出电路接收由多个输入电路发出的多个压缩信号，而探针卡混合由多个输出电路输出的多个压缩输出信号，以输出一个混合压缩输出信号至测试器。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器测试系统，包含：一存储器装置，包括具有多个存储库的一存储器芯片、多个输入电路与多个输出电路，其中每个存储库具有多个存储单元，每个输入电路皆具有一第一输入接脚及一第二输入接脚，该多个输入电路的该等第一输入接脚用以读取储存于该多个存储库的该等存储单元的多笔数据，该等第二输入接脚用以接收自该多个存储库输出的一压缩结果信号，并且该多个输入电路根据该压缩结果信号输出多个压缩信号；一探针卡，该探针卡电性连接于该输出电路；一测试器，该测试器电性连接于该探针卡；其中该等输出电路接收自该等输入电路输出的多个压缩信号，并且该等输出电路根据该多个压缩信号输出多个压缩输出信号，该探针卡混合多个压缩输出信号以输出一混合压缩输出信号至该测试器。
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