[发明专利]一种铬板制造工艺中残余点的处理方法在审
申请号: | 201410110349.0 | 申请日: | 2014-03-24 |
公开(公告)号: | CN103869610A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 陈翻;范利康 | 申请(专利权)人: | 武汉正源高理光学有限公司 |
主分类号: | G03F7/00 | 分类号: | G03F7/00;G03F7/20 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 张瑾 |
地址: | 430223 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种铬板制造工艺中残余点的处理方法,其包括的步骤:一是基片清洗;二是溅射镀膜;三是一次光刻,在玻璃基片表面均匀地涂覆一层正型感光材料,通过掩膜曝光将图形复制到铬膜层上面;四是二次光刻,在复制有图形的铬膜层上再次涂覆正型感光材料,通过对准掩膜版上预先设计的标记对准进行二次曝光,将第二张掩膜图形复制到铬膜层上,然后对其整板进行蚀刻,藉此二次光刻去除第一次光刻留下的残余点,藉由前述结构或其构造的结合,实现了该处理方法,从而达成了可在较低的环境洁净度下彻底清除阳区中的小岛缺陷,且可批量生产以及保证品质的良好效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 制造 工艺 残余 处理 方法 | ||
【主权项】:
一种铬板制造工艺中残余点的处理方法,其特征在于:该方法包括:步骤一,基片清洗:将玻璃基片表面清洗干净;步骤二,溅射镀膜:在玻璃基片表面镀上一层不透光的铬膜层及氧化铬抗反射涂层;步骤三,一次光刻:在玻璃基片表面均匀地涂覆一层正型感光材料,通过掩膜曝光,将图形复制到铬膜层上面;步骤四,二次光刻:承接步骤三,在复制有图形的铬膜层上再次涂覆正型感光材料,通过对准掩膜版上预先设计的标记对准进行二次曝光,将第二张掩膜图形复制到铬膜层上,然后对其整板进行蚀刻,藉此二次光刻去除第一次光刻留下的残余点。
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