[发明专利]可测试性设计微探针在审
| 申请号： | 201410123228.X | 申请日： | 2008-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN103926521A | 公开（公告）日： | 2014-07-16 |
| 发明（设计）人： | 徐放 | 申请（专利权）人： | 泰拉丁公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 戚传江;穆德骏 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于测试具有在器件内部的第一和第二互连芯片的器件的系统和技术，包括：选择通信通路上的位置，内部信号在第一和第二芯片之间沿着该通路在器件内部传导；以及将测试探针连接到该位置。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 设计 探针 | ||
【主权项】：
一种用于测试具有在器件内部的第一和第二互连芯片的所述器件的方法，所述方法包括：选择通信通路上的位置，内部信号在所述第一和第二芯片之间沿着所述通信通路在所述器件内部传导；将测试探针连接到所述位置，所述测试探针具有阻抗以：在测试期间将测试仪器的负载与所述器件基本上隔离，所述负载被通信地耦合到所述测试探针；以及在正常操作期间将通过所述测试探针的导电部分传播的信号与所述器件基本上隔离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泰拉丁公司，未经泰拉丁公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410123228.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种电偶极子天线及其使用方法
- 下一篇：垂直功率MOSFET
