[发明专利]一种用于绝缘体核材料中氧同位素的SIMS测量方法有效
| 申请号： | 201410137444.X | 申请日： | 2014-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN103995043B | 公开（公告）日： | 2018-07-06 |
| 发明（设计）人： | 王同兴;张燕;张生栋;赵永刚;沈彦;姜小燕;鹿捷 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明为一种用于绝缘体核材料中氧同位素的SIMS测量方法，其过程为：将铀氧化物微粒转移到石墨碳片上，制备成样品；对测量过程中需要用到的设备进行调试；测量铀氧化物微粒的氧同位素，并计算18O/16O的比值；校正测量值并计算不确定度；更换标样并卸载程序。这样，不需要进行样品的化学处理，可直接进行测量，使得分析速度更快、样品制备简单、样品用量也更小；同时SIMS具有微区分析和深度剖析的能力，可对样品的不同区域和不同深度的地方进行氧同位素的测量；SIMS通过接收O‑进行测量，不需要转化CO2气体再测量，减少了中间环节，减少了最后结果不确定度的引入因素，能够满足核法证学关于快速、准确分析的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 氧同位素 绝缘体 铀氧化物微粒 不确定度 核材料 测量过程 化学处理 石墨碳片 微区分析 校正测量 卸载程序 样品用量 样品制备 中间环节 标样 制备 调试 分析 剖析 引入 转化 | ||
【主权项】：
1.一种用于绝缘体核材料中氧同位素的SIMS测量方法，其特征在于,该方法包括以下步骤：步骤a，将铀氧化物微粒转移到石墨碳片上，制备成样品；步骤b，对测量过程中用到的设备进行调试；步骤c，测量所述铀氧化物微粒的氧同位素，并计算18O/16O的比值；步骤d，校正测量值并计算不确定度；所述步骤a中，微粒转移过程为将铀氧化物制成悬浮液，并用移液器取悬浮液滴于所述石墨碳片上，烘干，通过SEM和能量色散谱仪寻找和鉴别铀微粒，并使用微操作器的针转移微粒，将微粒转移到另外一个石墨碳片上的铜网网格内；所述步骤b中调试的设备为SIMS质谱仪。
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