[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201410156082.9 申请日: 2014-04-17
公开(公告)号: CN104112744B 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: 古畑智之 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L23/532;H01L21/8234
代理公司: 北京金信知识产权代理有限公司 11225 代理人: 黄威;苏萌萌
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种半导体装置及其制造方法,所述半导体装置包括:半导体基板,其具有第一面;体区,其位于半导体基板中,且与第一面相接;栅绝缘膜,其以与体区相接的方式设置在第一面上;栅电极,其位于栅绝缘膜上;第一绝缘体膜,其覆盖栅电极的侧面的至少一部分;接触区,其以与第一面相接的方式设置在体区内、且对第一面俯视观察时与栅电极不同的位置处;第二绝缘体膜,其包含与第一绝缘体膜的材料不同的材料,且位于体区、栅电极以及第一绝缘体膜上,并且在接触区上具有接触孔。
搜索关键词: 绝缘体膜 半导体装置 栅电极 体区 半导体基板 方式设置 栅绝缘膜 接触区 覆盖栅电极 俯视观察 接触孔 位置处 制造 侧面
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:半导体基板,其具有第一面;体区,其位于所述半导体基板中,且以与所述第一面相接的方式而设置;栅绝缘膜,其以与所述体区相接的方式而设置在所述第一面上;栅电极,其位于所述栅绝缘膜上;第一绝缘体膜,其覆盖所述栅电极的侧面的至少一部分;接触区,其以与所述第一面相接的方式设置在所述体区内、且对所述第一面俯视观察时与所述栅电极不同的位置处;第二绝缘体膜,其包含与所述第一绝缘体膜的材料不同的材料,且位于所述体区、所述栅电极以及所述第一绝缘体膜上,并且在所述接触区上具有接触孔,所述第一绝缘体膜的一部分与所述体区中的偏移扩散区接合。
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