[发明专利]半导体存储器件和包括其的半导体系统有效
| 申请号： | 201410160427.8 | 申请日： | 2014-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN104517654B | 公开（公告）日： | 2019-06-25 |
| 发明（设计）人： | 具岐峰 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 俞波;周晓雨 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种半导体存储器件，包括：存储器单元阵列，其包括用于储存多个数据的正常区、用于储存分别与多个正常数据相对应的多个错误信息数据的错误信息区、以及用于替换正常区的冗余区；错误检测单元，适用于响应于所述多个错误信息数据而检测所述多个数据上的错误，以及基于错误检测结果来储存指示正常区和冗余区中的具有错误的数据的存储区的错误位置信息；以及修复操作单元，适用于在修复操作时段期间，利用冗余区来替换由错误位置信息指示的存储区。 | ||
| 搜索关键词： | 冗余区 正常区 半导体存储器件 错误位置信息 错误信息数据 储存 替换 存储器单元阵列 错误检测单元 错误检测结果 修复 半导体系统 操作单元 操作时段 错误信息 正常数据 响应 检测 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储器件，包括：存储器单元阵列，其包括：用于储存多个数据的正常区、用于储存分别与所述多个数据相对应的多个错误信息数据的错误信息区、以及用于替换所述正常区的冗余区；写入操作单元，适用于：将输入数据的第一比特作为所述多个数据中的一个储存在所述存储器单元阵列上，以及将所述输入数据的第二比特作为所述多个错误信息数据中的相应一个储存在所述错误信息区上；错误检测单元，适用于：响应于所述多个错误信息数据而检测所述多个数据上的错误，以及基于错误检测结果来储存错误位置信息，所述错误位置信息指示所述正常区中的具有错误的数据的存储区；以及修复操作单元，适用于：在修复操作时段期间，利用所述冗余区来替换由所述错误位置信息指示的所述存储区。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱思开海力士有限公司，未经爱思开海力士有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410160427.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：外科手术器具
- 下一篇：视频编/解码方法、对应计算机程序及视频编/解码设备
