[发明专利]玻璃基板内部缺陷检查系统及所处高度位置的检查方法在审
| 申请号： | 201410167268.4 | 申请日： | 2014-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN104655646A | 公开（公告）日： | 2015-05-27 |
| 发明（设计）人： | 王建鑫;李杰;周波;王丽红 | 申请（专利权）人： | 东旭集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89;G01N21/01 |
| 代理公司： | 石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙) 13123 | 代理人： | 王苑祥 |
| 地址： | 050000 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 玻璃基板内部缺陷检查系统，解决现有技术中检验玻璃基板的内部缺陷所处玻璃基板高度位置效率低、成本高的技术问题，采用的技术方案是：包括处在传送装置上的玻璃基板，还包括对称设置在玻璃基板上下两侧的光源发射装置、与光源发射装置配套的采集成像装置及与采集成像装置相连接的装有控制管理程序的工控机。本发明还提供了一种玻璃基板内部缺陷所处高度位置的检查方法，采用本发明不仅提高了玻璃基板检查的自动化程度，同时进一步降低了成本、提高了产能。 | ||
| 搜索关键词： | 玻璃 内部 缺陷 检查 系统 高度 位置 方法 | ||
【主权项】：
玻璃基板内部缺陷检查系统，包括处在传送装置上的玻璃基板（3），其特征在于：还包括对称设置在玻璃基板（3）上下两侧的光源发射装置（A，B）、与光源发射装置（A，B）配套的采集成像装置及与采集成像装置相连接的装有控制管理程序的工控机（5）。
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