[发明专利]一种氟钽酸钾中硅含量的测定方法有效
| 申请号： | 201410177723.9 | 申请日： | 2014-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN103940807A | 公开（公告）日： | 2014-07-23 |
| 发明（设计）人： | 黄双;曾国忠;周丽 | 申请（专利权）人： | 从化钽铌冶炼厂 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01N1/38 |
| 代理公司： | 东莞市中正知识产权事务所 44231 | 代理人： | 张汉青 |
| 地址： | 510900 *** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种氟钽酸钾中硅含量的测定方法，该测定方法是采用ICP光谱仪，并采用耐氢氟酸进样系统；选用提纯后的电子级硝酸和氢氟酸；调整ICP光谱仪矩管的中心管、内管的高度使火焰底部与ICP光谱仪矩管的石英外管的距离比标准距离增加约50％；且每次测定与下次测定之间选用表面活性剂Triton-X100配制的溶液作为洗液，对ICP光谱仪的进样系统进行清洗。本发明方法克服业内一贯的技术壁垒，通过耐HF酸进样系统的引入、ICP光谱仪矩管中心管、内管位置调整、特定参数的设定、洗液的研制、标准样品的制备、试剂的提纯及选择等综合技术方案，实现用ICP光谱分析氟钽酸钾中的硅元素含量，并且测定下限达到0.0005％，在国内同行中属首创。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 氟钽酸钾中硅 含量 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种氟钽酸钾中硅含量的测定方法，其特征在于：该测定方法是采用ICP光谱仪，并采用耐氢氟酸进样系统；选用提纯后的电子级硝酸和氢氟酸；调整ICP光谱仪矩管的中心管、内管的高度使火焰底部与ICP光谱仪矩管的石英外管的距离比标准距离增加约50％；且每次测定与下次测定之间选用表面活性剂Triton‑X100配制的溶液作为洗液，对ICP光谱仪的进样系统进行清洗。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于从化钽铌冶炼厂，未经从化钽铌冶炼厂许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410177723.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：网络应用系统及部署方法
- 下一篇：基于情报分析的恶意域名检测方法及装置
