[发明专利]芯片中静态电流失效器件的检测方法和装置

摘要

一种芯片中静态电流失效器件的检测方法和装置，所述方法包括判定所述芯片中是否存在静态电流失效器件；当所述芯片中存在静态电流失效器件时，检测所述芯片中的热点位置；当所述热点有至少两个时，根据所述热点在电路版图文件中的位置信息，选取所述热点的共同电路路径；将所述共同电路路径的版图转换为对应的电路图，并将所述热点位置标识于所述电路图的对应位置；检测所述热点在所述电路图中的共通器件；在所述电路版图中标识所述共通器件的位置作为所述静态电流失效器件的位置。通过所述方法和装置，能够在版图的相应处快速准确地找到失效点，从而提高检测的准确性，以及节省检测时间。

主权项

一种芯片中静态电流失效器件的检测方法，其特征在于，包括：判定所述芯片中是否存在静态电流失效器件；当所述芯片中存在静态电流失效器件时，检测所述芯片中的热点位置；当所述热点有至少两个时，根据所述热点在电路版图文件中的位置信息，选取所述热点的共同电路路径；将所述共同电路路径的版图转换为对应的电路图，并将所述热点位置标识于所述电路图的对应位置；检测所述热点在所述电路图中的共通器件；在所述电路版图中标识所述共通器件的位置作为所述静态电流失效器件的位置；所述根据所述热点在电路版图文件中的位置信息，选取所述热点的共同电路路径包括：根据所述热点在电路版图文件中的位置信息，获取所述热点在所述版图文件上共通的接地管脚和电源管脚，并以所述接地管脚和所述电源管脚为边界范围，于电路版图中获取所述热点的共同电路路径。