[发明专利]分离栅极闪存存储器及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201410188491.7 申请日: 2014-05-06
公开(公告)号: CN104900650A 公开(公告)日: 2015-09-09
发明(设计)人: 永井享浩;仓知郁生 申请(专利权)人: 力晶科技股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L29/423;H01L21/8247;H01L21/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种分离栅极闪存存储器及其制造方法。该分离栅极闪存存储器,包括元件隔离结构、第一掺杂区与第二掺杂区、选择栅极、栅介电层、浮置栅极与栅间介电层。元件隔离结构设置于基底中,以定义出主动区。第一掺杂区与第二掺杂区分别设置于基底的主动区中。选择栅极设置于基底中的沟槽内,且选择栅极的一侧邻接第一掺杂区。栅介电层设置于选择栅极与基底之间。浮置栅极设置于基底上,浮置栅极的一侧与第二掺杂区部分重叠,且浮置栅极的一部分设置于选择栅极上。栅间介电层设置于浮置栅极与选择栅极之间以及于浮置栅极与基底之间。
搜索关键词: 分离 栅极 闪存 存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种分离栅极闪存存储器,包括:元件隔离结构,设置于一基底中,以定义出一主动区;第一掺杂区与第二掺杂区,分别设置于该基底的该主动区中;选择栅极,设置于该基底中的一沟槽内,且该选择栅极的一侧邻接该第一掺杂区;栅介电层,设置于该选择栅极与该基底之间;浮置栅极,设置于该基底上,该浮置栅极的一侧与该第二掺杂区部分重叠,且该浮置栅极的一部分设置于该选择栅极上;以及栅间介电层,设置于该浮置栅极与该选择栅极之间以及在该浮置栅极与该基底之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于力晶科技股份有限公司,未经力晶科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410188491.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top