[发明专利]分离栅极闪存存储器及其制造方法在审
申请号: | 201410188491.7 | 申请日: | 2014-05-06 |
公开(公告)号: | CN104900650A | 公开(公告)日: | 2015-09-09 |
发明(设计)人: | 永井享浩;仓知郁生 | 申请(专利权)人: | 力晶科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L29/423;H01L21/8247;H01L21/28 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种分离栅极闪存存储器及其制造方法。该分离栅极闪存存储器,包括元件隔离结构、第一掺杂区与第二掺杂区、选择栅极、栅介电层、浮置栅极与栅间介电层。元件隔离结构设置于基底中,以定义出主动区。第一掺杂区与第二掺杂区分别设置于基底的主动区中。选择栅极设置于基底中的沟槽内,且选择栅极的一侧邻接第一掺杂区。栅介电层设置于选择栅极与基底之间。浮置栅极设置于基底上,浮置栅极的一侧与第二掺杂区部分重叠,且浮置栅极的一部分设置于选择栅极上。栅间介电层设置于浮置栅极与选择栅极之间以及于浮置栅极与基底之间。 | ||
搜索关键词: | 分离 栅极 闪存 存储器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种分离栅极闪存存储器,包括:元件隔离结构,设置于一基底中,以定义出一主动区;第一掺杂区与第二掺杂区,分别设置于该基底的该主动区中;选择栅极,设置于该基底中的一沟槽内,且该选择栅极的一侧邻接该第一掺杂区;栅介电层,设置于该选择栅极与该基底之间;浮置栅极,设置于该基底上,该浮置栅极的一侧与该第二掺杂区部分重叠,且该浮置栅极的一部分设置于该选择栅极上;以及栅间介电层,设置于该浮置栅极与该选择栅极之间以及在该浮置栅极与该基底之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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