[发明专利]ID编码误差判读尺及判读方法有效
| 申请号： | 201410230672.1 | 申请日： | 2014-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN104006742B | 公开（公告）日： | 2017-01-11 |
| 发明（设计）人： | 吴韦良;徐勇;邱圣富;邱宗文 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海唯源专利代理有限公司31229 | 代理人： | 曾耀先 |
| 地址： | 201508 上海市金山区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种ID编码误差判读尺及判读方法。其中，误差判读尺包括：对照本体、设于对照本体上极限边界、以及位于极限边界之内的二维检验矩阵图。极限边界具有用于判读ID编码单元边界的界定尺寸，二维检验矩阵图具有用于判读ID编码单元中各个ID编码单体的单体限定尺寸。判读方法包括以下简要步骤：1)监视器拍摄成像；2)制作同比例ID编码误差判读尺；3)将对照本体与拍摄图像进行对比；4)依据判定准则排除具有不合格ID编码的产品。本发明通过一具有单体限定尺寸及界定尺寸的测量工具作为检测标准，以有效避免判读ID编码有误所产生的不良后果。本发明优点在于：直观简便、效果明显。 | ||
| 搜索关键词： | id 编码 误差 判读 方法 | ||
【主权项】：
一种ID编码误差判读尺，其特征在于包括：具有极限边界的对照本体,所述极限边界具有用于判读ID编码单元边界的界定尺寸；以及设于所述对照本体上、且位于所述极限边界界定尺寸之内的二维检验矩阵图，所述二维检验矩阵图具有用于判读所述ID编码单元中各个ID编码单体的单体限定尺寸；所述极限边界的界定尺寸包括：距离所述二维检验矩阵图的外围四周相当于两个标准ID编码单体大小的净空边界，所述净空边界与所述二维检验矩阵图外围四周的距离小于或等于100um；以及基于所述净空边界制定的变形偏移边界；所述变形偏移边界为一端偏离所述净空边界正三度以及负三度而形成的边界范围。
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