[发明专利]防止篡改集成电路的系统有效
申请号: | 201410238294.1 | 申请日: | 2014-05-30 |
公开(公告)号: | CN104217179B | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
发明(设计)人: | M·阿罗拉;P·巴拉加瓦;R·布杉 | 申请(专利权)人: | 恩智浦美国有限公司 |
主分类号: | G06F21/76 | 分类号: | G06F21/76 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 郭思宇 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 用于生成表示篡改集成电路(IC)的一个或多个电路的篡改检测信号的系统,包括篡改检测模块,以及被连接到所述篡改检测模块并且被布置成线圈配置以形成线网的导线对。所述线网被放置在距电路预定距离处。所述篡改检测模块生成并向导线对提供串行位流以检测通过外部探针对所述线网的破坏。 | ||
搜索关键词: | 防止 篡改 集成电路 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于生成表示篡改集成电路IC的一个或多个电路的篡改检测信号的系统,包括:用于基于预定算法生成多个串行位流的篡改检测模块;以及被连接到所述篡改检测模块并且被放置为距所述一个或多个电路预定距离的多个导线对,其中所述多个导线对中的第一对的第一和第二导线的第一端分别被连接到所述篡改检测模块的第一和第二输出端,用于分别接收所述多个串行位流中的第一串行位流和第二串行位流,其中所述第一和第二导线的第二端分别被连接到所述篡改检测模块的第一和第二输入端,用于向所述篡改检测模块提供第三串行位流和第四串行位流,并且其中所述篡改检测模块将所述第一串行位流和所述第三串行位流以及将所述第二串行位流和所述第四串行位流进行比较并生成所述篡改检测信号,所述导线对连续收到不同的位序列,所述位序列快速变化。
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