[发明专利]发光二极体的量测装置在审
| 申请号： | 201410250400.8 | 申请日： | 2014-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN104075879A | 公开（公告）日： | 2014-10-01 |
| 发明（设计）人： | 张晋源;曾家彬;翁思渊;王遵义;张添登 | 申请（专利权）人： | 致茂电子（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J1/04 |
| 代理公司： | 上海宏威知识产权代理有限公司 31250 | 代理人： | 袁辉 |
| 地址： | 215011 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种发光二极体的量测装置用于量测多个覆晶式发光二极体，覆晶式发光二极体之间皆具有一间隙，发光二极体的量测装置包含晶片膜、光检测装置与遮光元件，晶片膜承载覆晶式发光二极体，光检测装置设置于晶片膜相对覆晶式发光二极体的一侧，光检测装置具有收光口，遮光元件设置于收光口，遮光元件具有透光区与遮光区，遮光区环绕透光区，透光区的面积可涵盖单一覆晶式发光二极体与间隙的部分范围。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 二极体 装置 | ||
【主权项】：
一种发光二极体的量测装置，用于量测多个覆晶式发光二极体，其特征在于：该些覆晶式发光二极体之间皆具有一间隙，该发光二极体的量测装置包含：一晶片膜，承载该些覆晶式发光二极体；一光检测装置，设置于该晶片膜相对该些覆晶式发光二极体的一侧，该光检测装置具有一收光口；以及一遮光元件，设置于该收光口，该遮光元件具有一透光区与一遮光区，该遮光区环绕该透光区，其中该透光区的面积可涵盖单一覆晶式发光二极体与该间隙的部分范围。
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