[发明专利]用于集成无源器件的测试板以及测试方案有效
| 申请号： | 201410256680.3 | 申请日： | 2014-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN105203852B | 公开（公告）日： | 2019-07-02 |
| 发明（设计）人： | 杜天敏;陆原;刘丰满 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所;华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 | 代理人： | 陈红 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于集成无源器件的测试板，包括测试结构和校准结构，其特征在于：所述校准结构与所述测试结构位于同一块PCB板上，并且与所述测试结构的布局相同。依照本发明的用于集成无源器件的测试结构，在测试板上设计了IPD芯片的高频测试连接端口和误差校准结构，实现了测试点的连接，又通过校准结构的设计巧妙地消除测试链路中的误差，方便地进行IPD高频测试的校准和测试，提供了一种便捷准确的测量方式，满足IPD芯片研发工作中的测试需求。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成 无源 器件 测试 以及 方案 | ||
【主权项】：
1.一种用于集成无源器件的测试板，包括测试结构和校准结构，其特征在于：所述校准结构与所述测试结构位于同一块PCB板上，并且与所述测试结构的布局相同，所述校准结构包括开路校准结构和短路校准结构，所述短路校准结构的端子之间具有短路布线，其中，所述测试结构包括第一端子、第二端子以及第一互连布线，所述第二端子位于所述第一端子外围、并且通过所述互连布线与所述第一端子电连接，所述校准结构包括第三端子、第四端子以及第二互连布线，所述第三端子和第四端子的相对位置关系、与所述第一端子和第二端子的相对位置关系相同，所述第二互连布线与所述第一互连布线长度以及方向相同。
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