[发明专利]一种基于甲酸电氧化的Pd膜电极的修饰方法有效

专利信息
申请号: 201410268055.0 申请日: 2014-06-16
公开(公告)号: CN104022290A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 李巧霞;王龙龙;曹晓璐;王亚骏 申请(专利权)人: 上海电力学院
主分类号: H01M4/88 分类号: H01M4/88;H01M4/86;H01M4/92;C25D7/00;B01J23/644
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 林君如
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于甲酸电氧化的Pd膜电极的修饰方法,利用Sb在Pd表面上发生欠电位沉积,在Pd基底表面上沉积单层Sb以改善Pd表面结构,将玻碳电极在麂皮上打磨成镜面,再在0.1M HClO4中采用循环伏安法进行电化学清洗后在Pd镀液中沉积钯,然后在0.1mM酒石酸锑钾(APT)+0.5M H2SO4中控电位沉积(0.2~0.3V vs.SCE)10~30s,即完成在Pd基底表面上沉积单层Sb。与现有技术相比,本发明通过简单的UPD技术在Pd表面沉积单层Sb,这种Sb修饰的Pd电极对甲酸具有较好的催化效果。
搜索关键词: 一种 基于 甲酸 氧化 pd 电极 修饰 方法
【主权项】:
一种基于甲酸电氧化的Pd膜电极的修饰方法,其特征在于,该方法利用Sb在Pd表面上发生欠电位沉积,在Pd基底表面上沉积单层Sb以改善Pd表面结构,具体采用以下步骤:(1)制备Pd膜:将玻碳电极在麂皮上打磨成镜面,再在0.1M HClO4中采用循环伏安法进行电化学清洗(0~1.0V VS.SCE),之后在Pd镀液中沉积钯(采用循环伏安电沉积方法,镀液为5mM PdCl2+0.1M HClO4);(2)在Pd膜表面沉积单层Sb:将沉积有钯的Pd镀膜在0.1mM酒石酸锑钾(APT)+0.5M H2SO4中控电位沉积(0.2~0.3V vs.SCE)10~30s,即完成在Pd基底表面上沉积单层Sb。
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