[发明专利]校正触控面板边缘的坐标值的方法与触控装置有效
| 申请号： | 201410268064.X | 申请日： | 2014-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN105159484B | 公开（公告）日： | 2018-02-13 |
| 发明（设计）人： | 刘子维 | 申请（专利权）人： | 晨星半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人： | 徐伟 |
| 地址： | 中国台湾新竹县*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种校正触控面板边缘的坐标值的方法。该方法包含计算发生在触控面板边缘的一近接事件所对应的一计算坐标与一投影面积以得出一电容变化总和的平方根；根据该计算坐标与电容变化总和的平方根，自一查找表所包含的多个第一线性函数当中选出一第一线性函数；以及根据该第一线性函数与该计算坐标得出一真实坐标；其中，该查找表包含对应到多个电容变化总和的平方根的该多个第一线性函数的斜率与起始点，以及该投影面积相关于该触控面板的至少一电容变化量。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 面板 边缘 坐标 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种校正触控面板边缘的坐标值的方法，包含：计算发生在触控面板边缘的近接事件所对应的计算坐标与投影面积以得出电容变化总和的平方根；根据该计算坐标与电容变化总和的平方根，自查找表所包含的多个第一线性函数当中选出第一线性函数；以及根据该第一线性函数与该计算坐标得出真实坐标；其中，该查找表包含对应到多个电容变化总和的平方根的该多个第一线性函数的斜率与起始点，以及该投影面积相关于该触控面板的至少一电容变化量。
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