[发明专利]半导体存储装置及其编程方法有效
申请号: | 201410310687.9 | 申请日: | 2014-06-30 |
公开(公告)号: | CN105321566B | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 山内一贵 | 申请(专利权)人: | 华邦电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10;G11C29/42 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 苏捷;向勇 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本公开提供了一种半导体存储装置及其编程方法。该半导体存储装置及其编程方法,可一面维持数据的可靠性一面实现编程时间缩短。与非型快闪存储器将从外部输入输出端子输入的编程数据加载至页面缓冲器/感测电路,由监控编程数据的检测电路检测编程数据是否为特定的位串。当检测出编程数据并非为特定的位串时,由传输/写入电路将保持于页面缓冲器/感测电路的编程数据传输至错误检测校正电路,并将通过错误检测校正运算产生的错误校正码写入至页面缓冲器/感测电路。另一方面,当检测为特定的位串时,禁止保持于页面缓冲器/感测电路的编程数据进行传输,并将对应于该特定的位串的已知的错误校正码写入至页面缓冲器/感测电路。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 及其 编程 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,其特征在于包括:存储器阵列;数据保持元件,保持从所述存储器阵列读出的数据、或保持写入至所述存储器阵列的数据;错误检测校正元件,进行数据的错误检测校正;传输元件,将数据从所述数据保持元件传输至所述错误检测校正元件;写入元件,将由所述错误检测校正元件产生的错误校正码写入至所述数据保持元件;及检测元件,检测输入至所述数据保持元件的数据是否具有特定的位串;当检测到所述特定的位串时,所述传输元件禁止与所述特定的位串对应的数据进行传输,且所述写入元件将预先规定的错误校正码写入至所述数据保持元件,其中,半导体存储装置还包括存储所述特定的位串与错误校正码的关系的存储元件,且所述写入元件基于所述检测元件的检测结果,写入属于所述特定的位串的错误校正码,或是,所述写入元件包含基于所述检测元件的检测结果,产生属于所述特定的位串的错误校正码的逻辑电路,且写入由所述逻辑电路产生的错误校正码。
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