[发明专利]能够对多个存储器进行独立控制的测试装置

摘要

本发明涉及一种能够对多个存储器进行独立控制的测试装置，包括主终端，其接收用户的控制信号；通信接口部，其进行连接，以便主终端、嵌入式处理器、数据引擎部之间能够收发数据；嵌入式处理器，其收发用于测试的各种数据；数据引擎部，其实时生成模式数据和指令数据，从存储器读取写入的结果模式数据，与模式数据进行比较；序列控制部，其根据从所述嵌入式处理器接收的指令数据，独立控制多个SATA/SAS/PCIe接口部；多个SATA/SAS/PCIe接口部，根据由所述嵌入式处理器生成的接口选择信号，由SATA、SAS、PCIe接口中的任意一个与存储器连接，根据序列控制部的控制，来控制多个存储器，以便能够测试各存储器。

主权项

一种能够对多个存储器进行独立控制的测试装置，其特征在于，包括：主终端(100)，其接收用于测试存储器(10)的用户控制信号；通信接口部(300)，其进行连接，以便主终端(100)、嵌入式处理器(500)、数据引擎部(600)之间能够收发数据；嵌入式处理器(500)，其收发用于测试数据引擎部(600)、序列控制部(700)及存储器(10)的各种数据；数据引擎部(600)，其实时生成用于写入存储器(10)的模式数据和用于控制SATA/SAS/PCIe接口部(800)的指令数据，从存储器(10)读取写入的结果模式数据，与生成的模式数据进行比较；序列控制部(700)，其根据从所述嵌入式处理器(500)接收的指令数据，独立控制多个SATA/SAS/PCIe接口部(800)；SATA/SAS/PCIe接口部(800)，其形成有多个，根据由所述嵌入式处理器(500)生成的接口选择信号，由SATA、SAS、PCIe接口中的任意一个与存储器(10)连接，根据基于嵌入式处理器(500)的序列控制部(700)的控制，来控制多个存储器(10)，以便能够测试所连接的各存储器(10)，其中，所述序列控制部(700)包括嵌入式处理器接口模块(710)和多个序列控制模块(720)，所述嵌入式处理器接口模块(710)将从所述嵌入式处理器(500)接收的指令传输至序列控制模块(720)；其中，所述嵌入式处理器接口模块(710)根据接收的指令，生成对于各序列控制模块(720)的地址和对于存储器(10)的数据写入控制信号，根据该地址，向指定的序列控制模块(720)传输指令。