[发明专利]一种强激光取样衰减器有效
| 申请号： | 201410354915.2 | 申请日： | 2014-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN104133302A | 公开（公告）日： | 2014-11-05 |
| 发明（设计）人： | 庞淼;张卫;胡晓阳;周文超;高学燕;周山;何均章 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 |
| 主分类号： | G02F1/01 | 分类号： | G02F1/01;G01J1/04 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 韩志英 |
| 地址： | 621999 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种强激光取样衰减器，所述取样衰减器中的上部设置有漫反射取样板，漫反射取样板下部依次与衰减腔板、取样光散射板、衰减底板固定连接。漫透射材料置于取样光散射板和衰减底板之间。漫反射取样板用于对非取样强激光进行漫反射，具有高损伤阈值，漫反射取样板上的通孔用于对激光束进行空间取样，取样光散射板用于对取样强激光进行漫反射，衰减腔用于衰减匀化取样激光，漫透射材料用于将发散匀化后的激光再次进行取样，衰减底板上的通孔再次对漫透射取样光进行衰减。本发明解决了持续时间数十秒、功率密度10kW/cm2的强激光现有取样衰减器无法直接进行取样和衰减的问题，对于强激光参数测量具有重要促进作用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 取样 衰减器 | ||
【主权项】：
一种强激光取样衰减器，其特征在于：所述取样衰减器外形为柱状，包括漫反射取样板（1）、衰减腔板（2）、取样光散射板（3）、漫透射材料（4）、衰减底板（5）；所述漫反射取样板（1）用于对非取样强激光进行漫反射；所述漫反射取样板（1）上设置有通孔用于对入射激光束进行空间强度分布取样；所述衰减腔板（2）上设置有衰减腔用于衰减和匀化取样强激光；所述取样光散射板（3）用于对取样强激光进行漫反射；所述漫透射材料（4）用于对发散匀化后的取样光再次进行取样；所述衰减底板（5）上设置有通孔用于对漫透射取样激光再次进行衰减；所述取样衰减器的上部设置有漫反射取样板（1），漫反射取样板（1）下部依次与衰减腔板（2）、取样光散射板（3）、衰减底板（5）固定连接；漫反射取样板（1）轴向设置有圆形的通孔Ⅰ（6）；衰减腔板（2）的上部轴向设置有圆形的通孔Ⅱ(7)，下部轴向设置有衰减腔（8）；所述的取样光散射板（3）的轴向设置有圆形通孔Ⅲ（9）；所述的衰减底板（5）的轴向设置有圆形通孔Ⅳ（10）；通孔Ⅱ（7）、通孔Ⅲ（9）分别与衰减腔（8）相通，且通孔Ⅱ（7）与通孔Ⅲ（9）为轴向平行设置；所述漫透射材料（4）置于取样光散射板（3）的通孔Ⅲ(9)中，漫透射材料（4）的上表面与取样光散射板（3）上的通孔Ⅲ(9)中的台阶平齐，漫透射材料（4）的下表面与衰减底板（5）的上表面平齐。
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