[发明专利]一种透过阻焊面的铜箔基准检测仪及检测方法在审
| 申请号： | 201410373652.X | 申请日： | 2014-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN104132614A | 公开（公告）日： | 2014-11-05 |
| 发明（设计）人： | 宋作伟;于龙义;谭广有;寇昌 | 申请（专利权）人： | 大连日佳电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/28 |
| 代理公司： | 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 21235 | 代理人： | 李猛 |
| 地址： | 116600 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种透过阻焊面的铜箔基准检测仪及检测方法，包括：用于拍摄待测基板的视频采集模块、用于提供光亮度的光源、用于发射激光条纹的激光发射装置和待测基板；激光发射装置，包括激光发射器、激光探头；视频采集模块设置在待测基板上方，其两边分别设有光源和激光发射装置；本发明避免了因阻焊层的干扰而产生测试不良的现象，从而使测试结果更加精准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 透过 阻焊面 铜箔 基准 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种透过阻焊面的铜箔基准检测仪，其特征在于，包括：用于拍摄待测基板(4)的视频采集模块(2)、用于提供光亮度的光源(1)、用于发射激光条纹的激光发射装置(3)和待测基板(4)；激光发射装置(3)，包括:激光发射器和激光探头；视频采集模块(2)设置在待测基板(4)上方，其两边分别设置有光源(1)和激光发射装置(3)；所述的光源(1)为球积分光源。
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