[发明专利]母衬底、其阵列测试方法及显示器衬底有效
| 申请号： | 201410379417.3 | 申请日： | 2014-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN104464580B | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 金智善;蔡钟哲;权英根 | 申请（专利权）人： | 三星显示有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 母衬底包括：通过划线定义的显示器衬底单元，该显示器衬底单元包括多条栅线、驱动栅线的栅电路部分、以及连接至栅电路部分的栅焊盘部分；在围绕显示器衬底单元的周围区域中的栅测试焊盘部分，该栅测试焊盘部分被配置为接收栅测试信号；连接栅测试焊盘部分和栅焊盘部分的栅测试线部分；以及连接至栅测试线部分并被配置为控制栅测试线部分的导通和断开的开关部分。 | ||
| 搜索关键词： | 衬底 阵列 测试 方法 显示器 | ||
【主权项】：
一种母衬底，包括：通过划线定义的显示器衬底单元，该显示器衬底单元包括多条栅线、驱动栅线的栅电路部分、以及连接至栅电路部分的栅焊盘部分；在围绕显示器衬底单元的周围区域中的栅测试焊盘部分，该栅测试焊盘部分被配置为接收栅测试信号；栅测试线部分，连接栅测试焊盘部分和栅焊盘部分；以及开关部分，连接至栅测试线部分并且被配置为控制栅测试线部分的导通和断开。
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