[发明专利]存储器测试方法有效
| 申请号： | 201410385623.5 | 申请日： | 2014-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN105405468B | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 丁英财;吴哲钦;周聪乙;黄识夫 | 申请（专利权）人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器测试方法，用以测试存储器装置。该存储器装置包括存储器阵列，该存储器阵列包括多个对称存储器单元、多条字线与多条位线。于测试第一字线时，充电第一位线以测试该第一位线的相邻第一对称存储器单元的第一半边的单一位；以及充电第二位线以测试该第二位线的相邻一第二对称存储器单元的第二半边的单一位。于测试第二字线时，充电该第一位线以测试该第一位线的相邻一第三对称存储器单元的该第二半边的单一位；以及充电该第二位线以测试该第二位线的相邻一第四对称存储器单元的该第一半边的单一位。于测试各这些字线时，各这些位线被充电一次。 | ||
| 搜索关键词： | 位线 存储器单元 测试 半边 充电 对称 字线 存储器测试 存储器阵列 测试存储器 存储器装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试方法，用以测试一存储器装置，该存储器装置包括一存储器阵列，该存储器阵列包括多个对称存储器单元、多条字线与多条位线，该测试方法包括：于测试这些字线的一第一字线时，充电这些位线的一第一位线以测试该第一位线的一相邻一第一对称存储器单元的一第一半边的单一位；以及充电这些位线的一第二位线以测试该第二位线的一相邻一第二对称存储器单元的一第二半边的单一位；以及于测试这些字线的一第二字线时，充电这些位线的该第一位线以测试该第一位线的一相邻一第三对称存储器单元的该第二半边的单一位；以及充电这些位线的该第二位线以测试该第二位线的一相邻一第四对称存储器单元的该第一半边的单一位，其中，于测试各这些字线时，各这些位线被充电一次。
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