[发明专利]半导体装置有效
| 申请号： | 201410386850.X | 申请日： | 2014-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN104348487B | 公开（公告）日： | 2018-12-14 |
| 发明（设计）人： | 藤原正树;森木康夫;松本阳史 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | H03M1/38 | 分类号： | H03M1/38 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 韩峰;孙志湧 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种半导体装置。提供了一种能够精确控制内部时钟信号周期的半导体装置。该半导体装置通过使用在完成了N次比较时从异步逐次逼进型ADC的顺序寄存器输出的信号，来检测当时段从比较时段转变为采样时段时信号及其延迟信号是否被输出，并且基于检测结果，通过控制延迟电路的延迟时间来生成用于控制内部时钟信号的周期的延迟控制信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，其包括异步逐次逼近型A/D转换器，所述异步逐次逼近型A/D转换器在采样时段中对外部模拟信号进行采样，在比较时段中生成内部时钟信号，与所述内部时钟信号的第一前沿至第n前沿同步地执行第一次比较至第n次比较，并且基于比较结果来将所述外部模拟信号转换为多位数字信号，其中n是等于或者大于2的整数，其中，所述异步逐次逼近型A/D转换器包括顺序寄存器，所述顺序寄存器输出第一信号至第n信号，所述第一信号至第n信号分别指示已经执行了所述第一次比较至所述第n次比较，所述半导体装置进一步包括控制电路，所述控制电路检测在时段从所述比较时段转变为所述采样时段时是否输出有所述第n信号，并且基于检测结果来控制所述内部时钟信号的周期。
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