[发明专利]测量液晶层盒厚与预倾角的方法有效
| 申请号： | 201410415863.5 | 申请日： | 2014-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN104166254B | 公开（公告）日： | 2016-11-30 |
| 发明（设计）人： | 谢克成 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01B11/06;G01B11/26 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 林才桂 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量液晶层盒厚与预倾角的方法，包括以下步骤：步骤1、在阵列基板(1)与彩膜基板(3)上分别相应定义有效显示区域(5)及位于有效显示区域(5)外围的数个测量区域(7)，于有效显示区域(5)与测量区域(7)分别制作一致的图案；步骤2、将阵列与彩膜基板(1、3)对应有效显示区域(5)与测量区域(7)分别涂上胶框和滴入液晶；步骤3、将阵列与彩膜基板(1、3)完成对组、烘烤、配向制程；步骤4、对有效显示区域(5)与测量区域(7)分别进行液晶层盒厚与预倾角的测量，并对测量数据进行处理。该方法能够较准确的测量液晶层的盒厚与预倾角，对盒厚与预倾角进行有效监控，保证产品品质。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 液晶 层盒厚 倾角 方法 | ||
【主权项】：
一种测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、在阵列基板(1)与彩膜基板(3)上分别相应定义有效显示区域(5)及位于有效显示区域(5)外围的数个测量区域(7)，于有效显示区域(5)与测量区域(7)分别制作一致的图案；步骤2、将形成图案的阵列与彩膜基板(1、3)对应有效显示区域(5)与测量区域(7)分别涂上胶框和滴入液晶；步骤3、将涂有胶框和滴有液晶的阵列与彩膜基板(1、3)完成对组、烘烤、配向制程；步骤4、对有效显示区域(5)与测量区域(7)分别进行液晶层盒厚与预倾角的测量，并对测量数据进行处理。
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