[发明专利]MCSP功率半导体器件及制备方法在审

专利信息
申请号: 201410421700.8 申请日: 2014-08-25
公开(公告)号: CN105374773A 公开(公告)日: 2016-03-02
发明(设计)人: 牛志强;鲁军;哈姆扎·耶尔马兹;高洪涛 申请(专利权)人: 万国半导体股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/60
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 吴俊
地址: 美国加利福尼亚州*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明主要涉及功率半导体器件领域,尤其涉及在实现芯片级封装方式前提下,提出了一种MCSP封装形式的功率半导体器件及相应的制备方法。在晶圆背面设置一个导电粘合层;层压一个金属箔层至晶圆背面并利用所述导电粘合层进行压合黏接;粘贴一个复合胶带至所述金属箔层上;切割相邻芯片之间的叠层,所述叠层包括塑封层、晶圆、导电粘合层、金属箔层和复合胶带。
搜索关键词: mcsp 功率 半导体器件 制备 方法
【主权项】:
一种制备功率半导体器件的方法,其特征在于,包括以下步骤:提供正面带有一塑封层的晶圆;在晶圆背面或者一金属箔层的一面设置一导电粘合层;层压所述金属箔层至晶圆背面并利用所述导电粘合层进行压合黏接;粘贴一复合胶带至所述金属箔层上;切割相邻芯片之间的叠层,所述叠层包括塑封层、晶圆、导电粘合层、金属箔层和复合胶带,形成多颗独立的功率半导体器件。
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