[发明专利]半导体结构有效

专利信息
申请号: 201410424367.6 申请日: 2014-08-26
公开(公告)号: CN105374820B 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: 朴哲秀;江明崇 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 郝新慧;章侃铱
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种降低接触电阻的半导体结构,至少包括基板、埋入式字线、隔离层、多晶硅间隙壁以及接触窗插塞。基板内具有数个沟道。埋入式字线则位于沟道内,其中埋入式字线的顶面低于基板的表面一第一距离。隔离层位于埋入式字线上且其顶面低于基板的表面一第二距离。多晶硅间隙壁则位在隔离层上的沟道的侧壁,以与基板直接接触。接触窗插塞可通过上述多晶硅间隙壁增加与基板的接触面积,进而降低基板与接触窗插塞之间的阻值。本发明能增加基板与接触窗插塞间的接触面积,并藉此降低两者之间的接触电阻。
搜索关键词: 基板 接触窗插塞 埋入式字线 多晶硅间隙壁 隔离层 沟道 半导体结构 顶面 降低接触电阻 接触电阻 侧壁
【主权项】:
1.一种半导体结构,包括:一基板,具有多数个沟道;多数个埋入式字线,位在所述基板的所述沟道内,且所述埋入式字线的顶面低于所述基板的表面一第一距离;多数个隔离层,分别位于所述埋入式字线上的所述沟道内,且所述隔离层的顶面低于所述基板的表面一第二距离;多数个多晶硅间隙壁,位在所述隔离层上的所述沟道的侧壁,以与所述基板直接接触;以及多数个接触窗插塞,位在所述基板上并分别与所述多晶硅间隙壁与所述基板电性相连。
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