[发明专利]一种半导体倒装封装结构有效

专利信息
申请号: 201410433519.9 申请日: 2014-08-28
公开(公告)号: CN104241236B 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 林仲珉 申请(专利权)人: 通富微电子股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/31
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435 代理人: 孟阿妮,郭栋梁
地址: 226006 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种半导体倒装封装结构,所述半导体倒装封装结构包括基板与所述基板相连的芯片。基板的功能面的触点处设有导电柱,芯片的焊料凸点可以至少包覆导电柱背离基板的一端。本发明提供的倒装封装结构,通过在基板上设置导电柱,使得在回流焊接的过程中,焊料凸点融化并沿着导电柱流动,并至少包覆导电柱的顶部,导电柱对芯片具有一定的支撑作用,防止焊料凸点回流后易塌陷溢出形成短路的问题,同时,有效地提高了倒装封装结构的稳定性。
搜索关键词: 一种 半导体 倒装 封装 结构
【主权项】:
一种半导体倒装封装结构,包括基板和与所述基板相连的芯片,其特征在于,所述基板的功能面上触点处设有四个导电柱,每一焊料凸点对应包覆一个所述触点位置处的4个所述导电柱,所述导电柱的高度大于宽度,所述芯片的焊料凸点至少包覆所述导电柱背离所述基板的一端。
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