[发明专利]集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置有效
| 申请号： | 201410443162.2 | 申请日： | 2014-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN104422878B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 金范柱 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 胡江海;王兆赓 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了一种集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置。所述集成电路(IC)包括：片上逻辑，包括输入端、输出端和在扫描链中连接的多个同步电路；测试数据输入(TDI)线；测试数据输出(TDO)线，连接到输出端；测试接入端口(TAP)控制器，响应于一个或者更多个选择信号，将从多个数据源中的一个输出的数据发送到输入端，其中，所述数据源包括TDI线和输出端。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 操作 方法 具有 装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路，包括：片上逻辑，包括输入端、输出端和在扫描链中连接的多个同步电路；测试数据输入线；测试数据输出线，连接到输出端；测试接入端口控制器，响应于一个或者更多个选择信号，将从包括测试数据输入线和输出端的多个数据源中的一个输出的数据发送到输入端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410443162.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种蓄电池巡检系统
- 下一篇：半导体装置和测试方法
