[发明专利]时域反射仪去嵌入探头在审
| 申请号： | 201410497603.7 | 申请日： | 2014-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN104459228A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | D.G.克尼林;B.T.希克曼 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R35/00;G01R19/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;胡莉莉 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及时域反射仪去嵌入探头。去嵌入探头包括被配置为连接到测试下装置的输入、存储器、连接到该输入的信号发生器，该信号发生器被配置为生成测试信号，以及控制器，其被连接到信号发生器并被配置为控制该信号发生器。去嵌入探头可以被用在测试和测量系统中。该测试和测量系统还包括测试和测量仪器，其包括连接到去嵌入探头的控制器的处理器和测试和测量输入，该处理器被配置为提供指令给控制器，以及该测试和测量输入接收来自去嵌入探头的输出。 | ||
| 搜索关键词： | 时域 反射 嵌入 探头 | ||
【主权项】：
一种去嵌入探头，包括：输入，其被配置为连接到测试下装置；存储器；信号发生器，其被连接到所述输入，所述信号发生器被配置为生成测试信号；以及控制器，其被连接到所述信号发生器并被配置为控制所述信号发生器。
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