[发明专利]半导体封装件及其制法有效

专利信息
申请号: 201410507705.2 申请日: 2014-09-28
公开(公告)号: CN105514053B 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 邱士超;林俊贤;孙铭成;白裕呈;沈子杰 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体封装件及其制法,该制法,先提供一设有线路层与阻块的承载件,再形成一具有相对的第一表面及第二表面的封装层于该承载件上,使该封装层包覆该线路层与该阻块,且该第一表面结合于该承载件上,之后移除该承载件与该阻块,以令该封装层的第一表面上形成开口,供电子元件设于其中,所以于置放该电子元件之前,可先对线路层与该电子元件分别进行测试,以淘汰不良品,因而能避免将半导体封装件整体报废而造成材料浪费的问题。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制法
【主权项】:
1.一种半导体封装件,包括:封装层,其具有相对的第一表面与第二表面,且该封装层的第一表面上具有至少一开口;线路层,其形成于该封装层的第一表面且嵌埋于该封装层中;以及至少一电子元件,其设于该开口中并外露出该第一表面,该电子元件具有电极,该电子元件的电极通过多个导电元件接置一堆迭件,以令该堆迭件设于该封装层的第一表面上且电性连接该电子元件。
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