[发明专利]测试分选机

摘要

本发明涉及测试分选机。根据本发明的测试分选机可使用户盘的装载面插入或通过基板的装载孔和卸载孔。因此，可以缩短装载装置或卸载装置的升降距离，从而可以得到缩短装载作业或卸载作业消耗时间的效果。

主权项

一种测试分选机，包括：基板，形成有至少一个装载孔和至少一个卸载孔；至少一个装载板，所述至少一个装载板上放置有装载有待测试的半导体器件的用户盘，所述至少一个装载板被设置为能够在对应于所述至少一个装载孔的位置处升降；至少一个卸载板，所述至少一个卸载板上放置有装载有完成测试的半导体器件的用户盘，所述至少一个卸载板被设置为能够在对应于所述至少一个卸载孔的位置处升降；装载装置，用于将放置在所述至少一个装载板上的用户盘上所装载的半导体器件转移至放置在装载位置处的测试盘；测试室，用于测试所述半导体器件；以及卸载装置，用于将放置在卸载位置处的测试盘上所装载的半导体器件转移至放置在所述至少一个卸载板上的用户盘，其中，所述至少一个装载孔或所述至少一个卸载孔的平面面积大于所述用户盘的装载面的面积以使所述用户盘的装载面能够插入或进入所述装载孔或所述卸载孔；并且其中，所述至少一个装载孔或所述至少一个卸载孔的水平宽度和垂直宽度小于彼此相对的侧颚的外侧间隙，所述侧颚被提供至所述用户盘并且被放置为低于所述装载面。