[发明专利]一种微波器件测试用压紧装置在审
| 申请号： | 201410553420.2 | 申请日： | 2014-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN104267220A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 默江辉;杨中月;李亮;崔玉兴;付兴昌;蔡树军;杨克武 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 米文智 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种微波器件测试用压紧装置，涉及半导体器件测试工具技术领域。包括压块和通过压块上的螺钉孔能与测试平台紧固的螺钉，所述压块绝缘材料构成，压块底面设有微波器件端脚压紧凸起和微波器件适配的器件凹槽。本发明能够保证微波器件在测试过程中与微带线始终压紧，保证微波器件测试的稳定性和准确性，以及微波器件的无损性，本发明结构简单、成本低廉、通用性强、易于实现，保证了相关科研生产顺利进行。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 器件 测试 压紧 装置 | ||
【主权项】：
一种微波器件测试用压紧装置，其特征在于包括压块（1）和通过压块（1）上的螺钉孔（6）能与测试平台紧固的螺钉（3），所述压块（1）由绝缘材料构成，压块（1）底面设有微波器件端脚压紧凸起（4）和微波器件适配的器件凹槽（5）。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十三研究所，未经中国电子科技集团公司第十三研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410553420.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：照明装置及容器固定架
- 下一篇：一种防火护眼台灯
