[发明专利]一种微波器件测试用压紧装置在审

专利信息
申请号: 201410553420.2 申请日: 2014-10-17
公开(公告)号: CN104267220A 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 默江辉;杨中月;李亮;崔玉兴;付兴昌;蔡树军;杨克武 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 米文智
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种微波器件测试用压紧装置,涉及半导体器件测试工具技术领域。包括压块和通过压块上的螺钉孔能与测试平台紧固的螺钉,所述压块绝缘材料构成,压块底面设有微波器件端脚压紧凸起和微波器件适配的器件凹槽。本发明能够保证微波器件在测试过程中与微带线始终压紧,保证微波器件测试的稳定性和准确性,以及微波器件的无损性,本发明结构简单、成本低廉、通用性强、易于实现,保证了相关科研生产顺利进行。
搜索关键词: 一种 微波 器件 测试 压紧 装置
【主权项】:
 一种微波器件测试用压紧装置,其特征在于包括压块(1)和通过压块(1)上的螺钉孔(6)能与测试平台紧固的螺钉(3),所述压块(1)由绝缘材料构成,压块(1)底面设有微波器件端脚压紧凸起(4)和微波器件适配的器件凹槽(5)。
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