[发明专利]一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法

摘要

本发明公开了一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法，其按照先后顺序包括以下步骤：将标准样品烘干至恒重，取出冷却至室温；称取标准样品灼烧至恒重，取出冷却至室温；称取助熔剂与标准样品混合均匀；加入脱模剂置于熔融炉上熔解，制得标准样品的熔融玻璃片；应用X荧光光谱仪分析标准样品的熔融玻璃片，测定各种元素的谱线强度，建立各种元素谱线强度与该元素已知含量之间的回归方程；选取待测样品，重复上述步骤，利用满足要求的X荧光熔融法测定该待测样品中主次元素的含量。该发明的测定方法操作简单、分析速度快、结果精确，可同时测定石膏中各种元素的含量，建立了一种适用于石膏中主次元素含量测定和分析的普遍适用方法。

主权项

一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法，其按照先后顺序包括以下步骤：（1）选取石膏标准样品，并将其放置于烘箱中烘干至恒重，然后将其取出放置于干燥器中冷却至室温；（2）称取一定量的烘干并冷却至室温的石膏标准样品放置于已烘干至恒重的坩埚中，并放置于马弗炉中灼烧至恒重，然后将其取出放置于干燥器中冷却至室温；（3）称量灼烧后的石膏标准样品和坩埚总重量，并测定其烧失量；（4）称取一定量的助熔剂，并将其放置于坩埚中，然后将灼烧并冷却至室温的石膏标准样品与助熔剂在坩埚中混合均匀；（5）在助熔剂与石膏标准样品的混合物中加入脱模剂，并将其放置于熔融炉上熔解，制得石膏标准样品的熔融玻璃片；（6）应用X荧光光谱仪分析石膏标准样品的熔融玻璃片，测定各种元素的谱线强度，采用回归分析方法，建立各种元素谱线强度与该元素已知含量之间的回归方程，并绘制石膏标准样品中各种元素的标准分析曲线；（7）选取石膏标准样品，重复步骤（1）‑（5），制得该石膏标准样品的熔融玻璃片；（8）利用步骤（6）中的回归方程测定该石膏标准样品中主次元素的含量数据，并与标准值进行比较，若测定值与标准值接近，则此X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法满足要求；（9）选取石膏待测样品，重复步骤（1）‑（5），制得该石膏待测样品的熔融玻璃片；（10）利用满足要求的X荧光熔融法测定该石膏待测样品中主次元素的含量。