[发明专利]阵列测试装置和方法有效
| 申请号： | 201410572496.X | 申请日： | 2014-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN104267299A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 施文峰 | 申请（专利权）人： | 昆山国显光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 唐清凯 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种阵列测试装置和阵列测试方法，该装置包括：探针矩阵，多根探针均匀连续排列于探针矩阵上，具有地址矩阵信息且由电磁开关独立控制；地址矩阵系统，存储探针的地址矩阵信息；电压控制系统，根据探针的地址矩阵信息控制探针；运算组件，用于设定探针的选定规则。该方法包括：S1.划分多个探针子矩阵；S2.选定一个探针子矩阵，将每根探针处于扎针状态；S3.接收所有处于扎针状态中导通的探针的地址矩阵信息，选定一根或多根导通的探针；S4.解除非选定的探针的扎针状态；S5.重复上述步骤S2～S4，直至选定所有探针；S6.将电压通过所有选定的探针导入，进行测试。本发明的阵列测试装置和方法，测试效率高，适用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种阵列测试装置，其特征在于，包括：探针矩阵，所述探针矩阵上设置有多个探针，所述多个探针均匀连续排列于所述探针矩阵上，所述探针具有地址矩阵信息并由电磁开关独立控制；地址矩阵系统，用于存储所述探针的地址矩阵信息；电压控制系统，用于根据所述探针的地址矩阵信息控制所述探针；运算组件，用于设定探针的选定规则。
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