[发明专利]具有静电保护结构的功率器件及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201410590514.7 申请日: 2014-10-29
公开(公告)号: CN104300000A 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 赵喜高 申请(专利权)人: 深圳市可易亚半导体科技有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 代理人: 廉红果
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种具有静电保护结构的功率器件及其制作方法,所述具有静电保护结构的功率器件包括:漂移层、漏区、漏极、P-掺杂区、第一N+掺杂区、P+掺杂区、第一绝缘膜、第二绝缘膜、多晶硅层、栅极、静电保护层、第三绝缘膜、源极、静电电极及导线层,所述静电保护层包括数个第二P-掺杂区以及数个第二N+掺杂区,所述数个第二P-掺杂区与数个第二N+掺杂区相间排列。本发明通过在内部设置数个相间排列的P-掺杂区与第二N+掺杂区,以形成一静电保护层—齐纳二极管结构,这样就可以去除静电安全电路等在电源模组内所占的空间,无需再另外设置静电保护结构,提高电源模组的空间效率,减少布线数量以及一些寄生参数,实现高效功率器件。
搜索关键词: 具有 静电 保护 结构 功率 器件 及其 制作方法
【主权项】:
一种具有静电保护结构的功率器件,其特征在于,包括:漂移层,形成于所述漂移层下方的漏区,形成于所述漏区下方的漏极,形成于所述漂移层中的P‑掺杂区,形成于所述漂移层中的第一N+掺杂区,形成于所述漂移层中的P+掺杂区,形成于所述漂移层上的第一绝缘膜,形成于所述漂移层、第一P‑掺杂区与第一N+掺杂区上的第二绝缘膜,形成于所述第一、第二绝缘膜上的多晶硅层,形成于所述第二绝缘膜上的栅极,形成于所述第一绝缘膜上的静电保护层,形成于所述栅极、第一N+掺杂区、多晶硅层及静电保护层上的第三绝缘膜,形成于所述P+掺杂区与第一N+掺杂区上的源极,形成于所述多晶硅层上的静电电极,以及形成于所述源极、第三绝缘层及静电电极上的导线层;所述静电保护层包括数个第二P‑掺杂区以及数个第二N+掺杂区,所述数个第二P‑掺杂区与数个第二N+掺杂区相间排列。
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