[发明专利]测试单元、阵列基板和显示面板有效
| 申请号： | 201410602731.3 | 申请日： | 2014-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN104298039A | 公开（公告）日： | 2015-01-21 |
| 发明（设计）人： | 张逵 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1362 | 分类号： | G02F1/1362;G02F1/13;H01L27/12 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试单元，包括多条信号线、短路结构和测试结构，所述短路结构包括多条短路线，每条短路线用于连接颜色相同、极性相同的子像素对应的信号线，所述测试结构包括至少一条测试线，其中，所述短路结构设置在信号线的一端，所述短路结构与所述测试结构相连。相应地，本发明还提供一种阵列基板和显示面板。本发明可以减小测试单元在阵列基板上所占用的宽度，从而增加阵列基板上的可布线区面积，同时可以实现窄边框的设计。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 单元 阵列 显示 面板 | ||
【主权项】：
一种测试单元，包括多条信号线、短路结构和测试结构，所述短路结构包括多条短路线，每条短路线用于连接颜色相同、极性相同的子像素对应的信号线，所述测试结构包括至少一条测试线，其特征在于，所述短路结构设置在信号线的一端，所述短路结构与所述测试结构相连。
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