[发明专利]一种LED器件的光电测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410608553.5 | 申请日： | 2014-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN104316295B | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 孙天鹏;李春辉;董萌 | 申请（专利权）人： | 广东威创视讯科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司44102 | 代理人： | 禹小明,凌衍芬 |
| 地址： | 510670 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种LED器件的光电测试方法及装置，其方法为点亮待测LED器件的全部或部分LED芯片，测试并记录发光数据；关闭点亮的LED芯片的其中的一颗或多颗，测试并记录发光数据；根据测得的发光数据，计算出该一颗或多颗LED芯片的发光数据；将该一颗或多颗LED芯片的发光数据与预设的标准发光数据进行比较，判断该一颗或多颗LED芯片是否合格，若第该一颗或多颗LED芯片不合格，则判定该LED器件不合格。本发明适用于小电流LED器件的光电测试，具有测试时间短、准确率高、效率高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 器件 光电 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种LED器件的光电测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：点亮待测LED器件的全部或部分LED芯片，测试并记录发光数据，所述发光数据包括亮度、波长和光强；S2：关闭步骤S1中点亮的LED芯片的其中的一颗或多颗，测试并记录发光数据；S3：根据S1和S2测得的发光数据，计算出该一颗或多颗LED芯片的发光数据；S4：将该一颗或多颗LED芯片的发光数据与预设的标准发光数据进行比较，判断该一颗或多颗LED芯片是否合格，若该一颗或多颗LED芯片不合格，则判定该待测LED器件不合格；若该一颗或多颗LED芯片合格，则重复步骤S1~S4的方法，继续判定该待测LED器件的其余LED芯片是否合格，若待测LED器件的全部LED芯片均合格，则判定该LED器件合格。
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